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超低頻介電損耗測試儀

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超低頻介電損耗測試儀

超低頻介電損耗測試儀能夠按照歐洲電工標準化委員會 (CENELEC) 協調文件 HD 620 S1:1996 和 HD 621 S1:1996 的相關標準對中壓電纜進行測試。
0.1Hz 正弦波電壓,最高可達 24kV RMS。採用這種電纜測試方法,可以可靠地檢測聚乙烯 (PE)/交聯聚乙烯 (XLPE) 電纜以及紙絕緣電纜的絕緣故障,特別是水樹損傷,從而檢測閃絡。此測試程序不會損壞無故障的絕緣層。此外,還可以使用正負直流電壓以及梯形交流電壓(矩形波電壓)測試電纜的介電擊穿強度。矩形波電壓的轉換速率取決於電纜電容,並會自動調整。直流模式的附加漏電流測量可以評估電纜絕緣的相對品質。系統測試電壓的正弦波形也可以用於直接測量電纜的介電損耗因子,從而確定電纜損耗因子的劣化程度。有關此應用程式的詳細說明,請參閱相關手冊。

    超低頻介電損耗測試儀結合了以下特點和功能:

    • 完整的交流電壓測試,最高可達 24/31.8 kV RMS(正弦波電壓)
    • 整合超低頻耐壓和介電損耗因子測試
    • 直流和矩形波等其他輸出電壓波形
    • 護套測試和定位,電壓最高可達 10 kV
    • 漏電流測量
    • 手動和自動頻率調節
    • 電壓擊穿偵測並自動斷開高壓連接
    • 日誌記錄到內部記憶體,可透過磁碟機匯出至電腦以產生測試報告。
    • 透過 USB 進行韌體更新

    輸出電壓

    模型

    BVLF-34kV

    BVLF-45kV

    輸出電壓(正弦波)

    最大24千伏均方根值(34千伏)頂峰)

    最大電壓 31.8kV均方根值(45千伏)頂峰)

    直流電壓

    ±1–34kV

    ±1–45kV

    解決

    0.001千伏

    0.001千伏

    準確性

    1%

    1%

     

    輸出電流

    測量範圍

    0–14mA

    0–14mA

    解決

    1µA

    1µA

    準確性

    1%

    1%

    最大電容負載

    0.1Hz@0.5µF/24kV均方根值/34千伏頂峰

    0.05Hz@1.0µF/24kV均方根值/34千伏頂峰

    0.01Hz@8.0µF/18kV均方根值/25千伏頂峰 

    0.1Hz@0.5µF/31.8kV均方根值/45千伏頂峰

    0.05Hz@1.0µF/31.8kV均方根值/45千伏頂峰

    0.01Hz@5.0µF/22kV均方根值/31千伏頂峰 

    介電損耗因子測量(BVLF TD)

    甚低頻正弦波

    1-24kV rms

    1-31.8千伏 均方根值 

    載重範圍

    1nF-8uF

    1nF-5uF

    解決

    1x10-5 

    1x10-5 

    準確性

    1x10-4 

    1x10-4 

    測量範圍

    1x10 -4-9999.9 x10-4 

    1x10-4-9999.9 x10-4 

    tan-δ

    測量頻率

    0.1赫茲

    0.1赫茲

    一般資訊

    耗電量

    最大300VA

    最大400VA

    反向電壓保護

    13千伏

    15千伏

    資料介面

    USB2.0

    方面

    (寬 x 高 x 深)

    Peli 1430 型箱,尺寸:430 毫米 x 240 毫米 x 340 毫米

    重量

    22公斤

    周圍的

    工作溫度

    -10 至 +50°C

    儲存溫度

    -20 至 +60°C

    安全性和電磁相容性

    (EMC)

    符合CE標準、低電壓指令(2014/35/EC)

    電磁相容性指令 (2014/30/EC)、環境影響 EN60068-2 及後續版本

    使用者介面

    提供多種語言

    英文、簡體中文、俄文、西班牙文等。

    介質損耗儀-英文1-790.jpg

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